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加快測量速度
通過引入CW光專用靈敏度模式[RAPID],相較于以往機型,測量速度可提高多達20倍。這將縮短光譜測量所需的時間,提高生產效率。
與傳統機型相比
參考值跨度為100nm,25001個采樣點,平均值為1,噪聲水平約為?60 dBm
AQ6361體積不到AQ6370E的一半,可以成對安裝在標準機架上。這有助于降低復雜生產線和芯片測試儀所占用的體積,從而優化空間。
根據測量應用,可以選擇從0.03nm(高性能機型)到2nm的波長分辨率。此外,AQ6361還能提供高動態范圍測量,具有73dB的出色雜散光抑制性能(高性能機型)。
ITLA的光譜